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ELECTRICAL TEST
vC.0.2进行较大的温度换算且试验结果超过本标准第8.0.11 条第2款规定时,应进行综合分析判断。
C.0.3当测量时的温度差不是本标准表C.0.1中所列数值时, 其换算系数A可用线性插入法确定。
C.0.4绕组连同套管的介质损耗因数tanδ(%)温度换算,应符合下列规定:
1、温度系数可按下式计算:A - 1.3K/1°(C.0.4-1)
2、当测量温度在20C以上时,校正到20C时的介质损耗因数可按下式计算:
tanδ20 = tanδt/A (C.0.4-2)
3、当测量温度在20C以下时,校正到20°C时的介质损耗因数可按下式计算:
Tanδ20 — .Atanδt (C.0.4-3)
式中:
tanδ20—校正到20°C时的介质损耗因数C.0.2进行较大的温度换算且试验结果超过本标准第8.0.11 条第2款规定时,应进行综合分析判断。
C.0.3当测量时的温度差不是本标准表C.0.1中所列数值时, 其换算系数A可用线性插入法确定。
C.0.4绕组连同套管的介质损耗因数tanδ(%)温度换算,应符合下列规定:
1、温度系数可按下式计算:A - 1.3K/1°(C.0.4-1)
2、当测量温度在20C以上时,校正到20C时的介质损耗因数可按下式计算:
tanδ20 = tanδt/A (C.0.4-2)
3、当测量温度在20C以下时,校正到20°C时的介质损耗因数可按下式计算:
Tanδ20 — .Atanδt (C.0.4-3)
式中:
tanδ20—校正到20°C时的介质损耗因数;
tanδt—在测量温度下的介质损耗因数。;
tanδt—在测量温度下的介质损耗因数。