GB/T 17626 的本部分给出了利用各种 TEM 波导进行电子和电气设备发射和抗扰度试验的方法。 TEM波导有开放式（例如，带状线和电磁脉冲（EMP）模拟器）和封闭式（例如，TEM 室），还可以进一步分为单端口 、双端口和多端口波导。TEM 波导的适用频率范围取决于县体的试验需求和 TEM 波导的具体类型。
本部分的目的是给出∶
-TEM 波导的性能，包括典型的频率范围和对 EUT尺寸的限制;

-用于电磁兼容（EMC）试验的 TEM 波导的确认方法;

-EUT（即 EUT壳体和连接天博综合官网）的定义;
-在 TEM 波导中进行辐射发射试验的试验布置、步骤和要求;

-在 TEM 波导中进行辐射抗扰度试验的试验布置、步骤和要求。
注∶本部分规定的试验方法用于测量所关心设备的电磁辐射抗扰度和辐射发射。电磁辐射的模拟和测量结果对于
定量确定最终安装使用状态下的电磁效应是不够准确的，规定试验方法的主要目的是保证定性分析电磁效应使用的不同试验设备所得试验结果的重复性。
本部分的目的不是规定适用于任意特定产品或系统的试验方法，而是为所有感兴趣的产品委员会提件通用的基制性参考。对干较射发射试验，产品委员会应参考天博综合官网无线由于扰特别委 员全（CISPR）
标准'选择发射限值和试验方法。对于辐射抗扰度试验，由产品委员会负责对其管辖范围内的设备选择合适的试验方法和抗扰度限值。本部分描述的试验方法独立于 GB/T 17626.32）。

《GB T 17626.20-2014 电磁兼容 试验和测量技术 横电磁波（TEM）波导中的发射和抗扰度试验》