GB/T 17626 的本部分涉及电子和/或电气设备的辐射发射和辐射抗扰度的测量，规定了在全电波暗室（FAR）内进行的辐射发射和辐射抗扰度的试验程序。
注∶ 依据 GB/Z 18509，本部分是供相关产品委员会使用的电磁兼容基础标准，如导则 GB/Z 18509 所述，产品委员会负责确定对其 EMC产品类标准的适用性，TC 77/SAC/TC 246、CISPR/SAC/TC 79 及其分委员会（例如， SAC/SC 7）已准备好与产品委员会在标准制定和修订的合作中一起来确定特定 EMC 试验在具体产品中的作用。
本部分规定了在同一个全电波暗室进行辐射发射测量与辐射抗扰度试验时的通用确认程序、受试设备（EUT）的试验布置要求以及全电波暗室测量方法（详见附录 A 和附录 B）。
作为电磁兼容基础测量标准，本部分对应用于具体装置或系统的抗扰度试验电平或发射限值不做具体规定，其主要目标是为国内相关产品委员会提供常规测量程序，而针对产品的具体要求和试验条件由相应的产品委员会来规定。
本部分的方法适用于 30 MHz～18 GHz 频率范围内的辐射发射和抗扰度测量。

《GB T 17626.22-2017 电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量》